元器件可靠性問(wèn)題即基本失效率的問(wèn)題，這是一種隨機(jī)性質(zhì)的失效，與質(zhì)量問(wèn)題的區(qū)別是元器件的失效率取決于工作應(yīng)力水平。KE撥碼開(kāi)關(guān)在一定的應(yīng)力水平下，元器件的 失效率會(huì)大大下降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數(shù)不合格、密封性能不合格、外觀不合格、穩(wěn)定性差、早期失效等，應(yīng)進(jìn)行篩選試驗(yàn)，這是一種非破 壞性試驗(yàn)。通過(guò)篩選可使元器件失效率降低1～2個(gè)數(shù)量級(jí)，當(dāng)然篩選試驗(yàn)代價(jià)（時(shí)間與費(fèi)用）很大，但綜合維修、后勤保障、整架聯(lián)試等還是合算的，研制周期也 不會(huì)延長(zhǎng)。電源設(shè)備主要元器件的篩選試驗(yàn)一般要求：

　?、匐娮柙谑覝叵掳醇夹g(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。

　?、谄胀娙萜髟谑覝叵掳醇夹g(shù)條件進(jìn)行100％測(cè)試，剔除不合格品。

　　③接插件按技術(shù)條件抽樣檢測(cè)各種參數(shù)。

　　④半導(dǎo)體器件按以下程序進(jìn)行篩選：

　　目檢→初測(cè)→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測(cè)試→低溫測(cè)試→常溫測(cè)試

　　篩選結(jié)束后應(yīng)計(jì)算剔除率Q

　　Q=（n / N）×100%

　　式中：N——受試樣品總數(shù)；

　　n——被剔除的樣品數(shù)；

　　如果Q超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的上限值，則本批元器件全部不準(zhǔn)上機(jī)，并按有關(guān)規(guī)定處理。

　　在符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定時(shí)，KE則將篩選合格的元器件打漆點(diǎn)標(biāo)注，然后入專用庫(kù)房供裝機(jī)使用。